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wafer prober

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晶圆探针:一种用于测试半导体晶圆上集成电路性能的设备,通过探针与晶圆上的电路接触,以检测其电气性能。

网络释义
晶片检测仪
... wafer printing: 晶片光刻 wafer prober: 晶片检测仪 wafer probing: 晶圆测试,晶圆探测 ...
晶圆探测器
... wafer notch chamfering machine晶圆缺口去角取面机 wafer prober晶圆探测器 wafer profile recognition晶圆外形识别 ...
晶圆探针
... 晶圆缺口去角取面机 Wafer probe 晶圆探针 wafer prober 晶圆外形识别 wafer rotation error ...
测试机
美商康耐视(Cognex)已设计出可供晶圆探针测试机(wafer prober) 增加最先进的条形码识别记号所需的各项功能套件。
常用短语
* 以上查询结果来自于网络,仅供参考。
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