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wafer probe

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晶圆探针：一种用于测试半导体晶圆上集成电路性能的工具，通常在晶圆制造过程中的测试阶段使用。

晶圆针测制程

2）晶圆针测制程（Wafer Probe）经过Wafer Fab之制程后，晶圆上即形成一格格的小格，我们称之为晶方或是晶粒（Die），在一般情形下，同一片晶圆上皆制作相同的晶...

晶圆针测工序

...造过程可划分为前道（Front-end）和后道（Back-end），前道包括晶圆处理工序（Wafer Fabrication）和晶圆针测工序（Wafer Probe），后道包括封装工序（Packaging）和测试工序（Initial Test and Final Test）。

晶圆针测

晶圆加工完后的晶圆,一般会经过晶圆针测〈wafer probe〉的过程,将失败的晶粒加以标记〈ink do..

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