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logic built in self test
网络释义
中逻辑内建自测试
...据库 用于提高芯片可测试性的可测性设计(dcsign for testability,DFT)方法被提出,其中逻辑内建自测试(logic built in self test, LBIST)方法已经被证明为大规模集成电路(VLSI)和SOC测试的一项有效的可测试性设计方法。
逻辑内建自测试
...据库 用于提高芯片可测试性的可测性设计(dcsign for testability,DFT)方法被提出,其中逻辑内建自测试(logic built in self test, LBIST)方法已经被证明为大规模集成电路(VLSI)和SOC测试的一项有效的可测试性设计方法。
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