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focused ion beam

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聚焦离子束:一种利用聚焦的离子束进行材料表面加工和分析的技术。
查看英英释义
abstract:
Focused ion beam, also known as FIB, is a technique used particularly in the semiconductor industry, materials science and increasingly in the biological field for site-specific analysis, deposition, and ablation of materials. An FIB setup is a scientific instrument that resembles a scanning electron microscope (SEM).

网络释义
聚焦离子束
1、电子束刻划机(Electron beam lithography)和聚焦离子束(Focused ion beam)刻蚀机工艺研发工程师1名(岗位一):
子束
...上有两个额外的备选电阻,可以将原有金属层 原有金属层用 激光切断 激光切断,并适用聚焦离子束 聚焦离子束(focused ion beam) 的方法淀积新的金属 淀积新的金属来增加金属线。
聚焦离子束技术
...1、聚焦离子束技术(FIB) 聚焦离子束技术(Focused Ion beam,FIB)是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的离子束轰击材料表面,实现材料的剥离、沉积、注入、切割和改性。
做电路修改
... FIB Focused Ion Beam 聚离子束 focused ion beam 聚焦离子束 ; 离子束 ; 做电路修改 ; 子束加工 focused ion beam lithography 聚焦离子束光刻 ...
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