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focused-ion-beam

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聚焦离子束:一种利用聚焦的离子束进行材料表面加工和分析的技术。
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abstract:
Focused ion beam, also known as FIB, is a technique used particularly in the semiconductor industry, materials science and increasingly in the biological field for site-specific analysis, deposition, and ablation of materials. An FIB setup is a scientific instrument that resembles a scanning electron microscope (SEM).

网络释义
聚焦离子束
聚焦离子束
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