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automatic test pattern generation

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自动测试图样产生
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abstract:
ATPG (acronym for both Automatic Test Pattern Generation and Automatic Test Pattern Generator) is an electronic design automation method/technology used to find an input (or test) sequence that, when applied to a digital circuit, enables automatic test equipment to distinguish between the correct circuit behavior and the faulty circuit behavior caused by defects. The generated patterns are used to test semiconductor devices after manufacture, and in some cases to assist with determining the cause of failure (failure analysis.

网络释义
自动测试模式产生
...试产生器 Automatic Test Pattern Generation 自动化测试模式生成 automatic test pattern generation (ATPG) 自动测试模式产生 ..
自动产生测试图案
test pattern generation 测试图案发生 ; automatic test pattern generation 自动产生测试图案 ; 测试向量自动生成 ; 自动测试图样产生 ; 自动向量测试生成 Laser pattern generation 雷射图形产生器 ..
自动测试模式生成
...n Generation 自动测试向量生成 ATPG Automatic Test Pattern Generation 自动测试模式生成 automatic test pattern generation system 自动测试型样产生系统 ..
自动测试装置
自动定尺寸装置 automatic temperature controller 自动测试装置 automatic test pattern generation 自动产生测试图案 automatic test program generator ..
常用短语
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