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Test-On-Chip
网络释义
的内建测试
12v技术文章 - 第14页 - 电子工程专辑 不匹配造成的镜像干扰便是其中之一。随着微机电系统(MEMS)技术的逐步成熟和大规模应用，利用MEMS的内建测试(Test-On-Chip,TOC)技术来抑制信道失配造成的镜像干扰就是一种有效的解决方案。 电子工程师必备基础知识手册(二)：电
常用短语
- on wafer chip test薄片内芯片检测
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