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Electron-beam induced Current


网络释义
电子束诱生电流
铸造多晶硅晶界的EBSD和EBIC研究--《太阳能学报》2006年04期 用电子背散射衍射(electron back-scattered diffraction,EBSD)和电子束诱生电流(electron beam induced cur-rent,EBIC)技术对铸造多晶硅的晶界类型和晶界复合特性进行了研究。EBSD分析显示铸造多晶硅中的大部分晶界为大角度
电子束引致电流
电子束引致电流(Electron-beam induced Current , EBIC):当一个p-n接面(Junction)经电子束照射后,会产生过多的电子-空位对,这些载子扩散时被p-...
电流
电子束引致电流(Electron-beam induced Current , EBIC):当一个p-n接面(Junction)经电子束照射后,会产生过多的电子-空位对,这些载子扩散时被p-...
电子束激发的电流
65nm产品失效分析方法及良率的提升 - docin.com豆丁网 接 面漏电(JunctionLeakage)在受到电子束激发后可以转化成电流或电压的讯号 被侦测到,这即是所谓的电子束激发的电流(Electron BeamInducedCurrent, EBIC)或电子束激发的电压(ElectronBeamInduced Voltage,EBIV)分析法, 目前
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