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Build-In Self Test
网络释义
叫做内置自检
SoC测试的发展趋势及挑战 何能有效进行SoC芯片的测试工作,是学术界、产业界与各个研究单位都在努力解决的问题。目前有一种方法,叫做内置自检(BIST, Build-In Self Test)。运用这种测试方法时,在芯片的设计阶段,就必须把自检测试的原理考虑进去,在制造芯片的电路中也必须要加
常用短语
- Build in Self Test内建自测试法;自测试
- build-in-self-test内建自我测试;测试
- Build-In-Self-Test for Software软件内建自测试
- logic build in self test逻辑内建自测试
- Build-in self-test内建自测试
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